文献解读 | High-NA EUV 光刻的同轴四镜投影器:一种消除掩模 3D 效应的方案(arXiv 2025)
解读 Shintake 2025 年 arXiv 论文:用两级等曲率凹-凸镜对搭建同轴四镜投影器,把数值孔径推到 0.5/0.7(Hyper-NA),让掩模与晶圆在曝光时都保持静止,从光学根因上缓解 EUV 光刻的掩模 3D 效应。
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解读 Shintake 2025 年 arXiv 论文:用两级等曲率凹-凸镜对搭建同轴四镜投影器,把数值孔径推到 0.5/0.7(Hyper-NA),让掩模与晶圆在曝光时都保持静止,从光学根因上缓解 EUV 光刻的掩模 3D 效应。
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